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北京时代TT210、TT200、TT230涂层测厚仪优惠促销

北京时代TT210、TT200、TT230涂层测厚仪优惠促销

TT220涂层测厚仪
   TT220涂层测厚仪采用了磁性测厚法,是一种手持式超小型涂层\电镀层测量仪,TT220涂层测厚仪它能快速、无损伤、精颏地进行铁磁性金属基体上的覆层厚度的测量。 时代便携式涂层测厚仪TT220可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于时代测厚仪TT220体积小,测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量。

TT220涂层测厚仪 的主要功能:

可进行零点校准及二点校准。
可对测头进行基本校准。
设有五个统计量:平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO)、标准偏差(S.DEV)。
可存贮和统计计算15个测量值。
具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)。
具有自动关机功能。
删除功能:对测量中出现的单次可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据,以便进行新的测量。
操作过程有蜂鸣声提示。
有欠压指示功能。
有错误提示功能。

TT220涂层测厚仪 的主要技术指标:

测量原理:磁性法
测量范围:1~1250μm
测量精度:±(3%H+1)μm(零点校准)
     ±[(1~3)%H+1] μm(二点校准) 


 
商品名称:TT230涂层测厚仪

 

北京时代TT230数字式涂层测厚仪
    时代TT230涂层测厚仪
是一种超小型的测量仪。涂层测厚仪TT230它能快速、无损伤、精颏地进行非磁性金属基体上非导电覆层厚度的测量。TT230涂镀层测厚仪可广泛用于制造业、金属加工业、商检等检测领域。由于TT230涂层测厚仪仪器体积小,测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量。

TT230涂层测厚仪 的主要功能:

  可进行零点校准及二点校准。
  可对测头进行基本校准。
  设有五个统计量:平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO)、标准偏差(S.DEV)。可存贮和统计计算15个测量值。
  具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)。
  自动关机功能。
  删除功能:对测量中出现的单次可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据,以便进行新的测量。
  操作过程有蜂鸣声提示。
  有欠压指示功能。
  有错误提示功能。

TT230涂层测厚仪 的主要技术指标: 

  测量原理:涡流法
  测量范围:1~1250μm
  测量精度:±(3%H+1.5)μm(零点校准)
       ±[(1~3)%H+1.5] μm(二点校准)

TT210涂层测厚仪


 
商品名称:TT210涂层测厚仪


   时代TT210数字式涂层测厚仪
是磁性、涡流一体的便携式涂层测厚仪,它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。TT210涂层测厚仪既可用于实验室,也可用于工程现场。时代TT210涂层测厚仪能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业必备的仪器。

TT210涂层测厚仪 适用范围:

  本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆盖层的厚度(如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:橡胶、油漆、塑料、阳极氧化膜等)。


TT210涂层测厚仪 的功能特点:

采用了磁性和涡流两种测厚方法,即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度;
具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE);
具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl);
设有五个统计量:平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV);
可采用两种方法对仪器进行校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正;
具有存贮功能:可存贮500个测量值;
具有删除功能:对测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据,以便进行新的测量;
可设置限界:对限界外的测量值能自动报警;并可用直方图对一批测量值进行分析;
具有打印功能:可打印测量值、统计值、限界、直方图;
具有与PC机通讯的功能:可将测量值、统计值传输至PC机,以便对数据进行进一步处理;
具有电源欠压指示功能;
操作过程有蜂鸣声提示;
具有错误提示功能,通过屏显或蜂鸣声进行错误提示;
设有两种关机方式:手动关机方式和自动关机方式。

TT210涂层测厚仪 技术参数:

测头类型 F N
工作原理 磁感应 涡流
测量范围(µm) 0~1250 0~1250其中:铜上
镀铬(0~40)
低限分辨力(µm) 0.1 0.1
示值
误差
一点校准(um) ±(3%H+1) ±(3%H+1.5)
二点校准(µm) ±[(1~3)%H+1] ±[(1~3)%H+1.5]
测试
条件
最小曲率半径(mm) 凸 1.5 凸3
最小面积的直径(mm) Φ7 Φ5
基体临界厚度(mm) 0.5 0.3
 


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